What are the limitations in the characterization of self-assembled metamaterials using advanced microscopy techniques?

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Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Año de publicación: 2005

Volumen: 11

Número: SUPPL. 2

Páginas: 204-205

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927605507153 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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