All-electronic terahertz nanoscopy
- Liewald, C.
- Mastel, S.
- Hesler, J.
- Huber, A.J.
- Hillenbrand, R.
- Keilmann, F.
ISSN: 2334-2536
Ano de publicación: 2018
Volume: 5
Número: 2
Páxinas: 159-163
Tipo: Artigo
ISSN: 2334-2536
Ano de publicación: 2018
Volume: 5
Número: 2
Páxinas: 159-163
Tipo: Artigo