All-electronic terahertz nanoscopy
- Liewald, C.
- Mastel, S.
- Hesler, J.
- Huber, A.J.
- Hillenbrand, R.
- Keilmann, F.
ISSN: 2334-2536
Año de publicación: 2018
Volumen: 5
Número: 2
Páginas: 159-163
Tipo: Artículo
ISSN: 2334-2536
Año de publicación: 2018
Volumen: 5
Número: 2
Páginas: 159-163
Tipo: Artículo