Phase-resolved terahertz self-detection near-field microscopy

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Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Año de publicación: 2018

Volumen: 26

Número: 14

Páginas: 18423-18435

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/OE.26.018423 GOOGLE SCHOLAR