Dual-Scattering Near-Field Microscope for Correlative Nanoimaging of SERS and Electromagnetic Hotspots

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Revista:
Nano Letters

ISSN: 1530-6992 1530-6984

Año de publicación: 2017

Volumen: 17

Número: 4

Páginas: 2667-2673

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.7B00503 GOOGLE SCHOLAR