The butterfly-a well-defined constant-current topography pattern on Si(001):H and Ge(001):H resulting from current-induced defect fluctuations
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- Godlewski, S.
- Kolmer, M.
- Zuzak, R.
- Such, B.
- Frederiksen, T.
- Szymonski, M.
- Sánchez-Portal, D.
ISSN: 1463-9076
Año de publicación: 2016
Volumen: 18
Número: 28
Páginas: 19309-19317
Tipo: Artículo