The butterfly-a well-defined constant-current topography pattern on Si(001):H and Ge(001):H resulting from current-induced defect fluctuations

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Zeitschrift:
Physical Chemistry Chemical Physics

ISSN: 1463-9076

Datum der Publikation: 2016

Ausgabe: 18

Nummer: 28

Seiten: 19309-19317

Art: Artikel

DOI: 10.1039/C6CP04031D GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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