The butterfly-a well-defined constant-current topography pattern on Si(001):H and Ge(001):H resulting from current-induced defect fluctuations

  1. Engelund, M.
  2. Godlewski, S.
  3. Kolmer, M.
  4. Zuzak, R.
  5. Such, B.
  6. Frederiksen, T.
  7. Szymonski, M.
  8. Sánchez-Portal, D.
Revista:
Physical Chemistry Chemical Physics

ISSN: 1463-9076

Any de publicació: 2016

Volum: 18

Número: 28

Pàgines: 19309-19317

Tipus: Article

DOI: 10.1039/C6CP04031D GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus