The butterfly-a well-defined constant-current topography pattern on Si(001):H and Ge(001):H resulting from current-induced defect fluctuations

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Revista:
Physical Chemistry Chemical Physics

ISSN: 1463-9076

Año de publicación: 2016

Volumen: 18

Número: 28

Páginas: 19309-19317

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/C6CP04031D GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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