Polarization-Resolved Near-Field Characterization of Nanoscale Infrared Modes in Transmission Lines Fabricated by Gallium and Helium Ion Beam Milling

  1. Sarriugarte, P.
  2. Schnell, M.
  3. Chuvilin, A.
  4. Hillenbrand, R.
Zeitschrift:
ACS Photonics

ISSN: 2330-4022

Datum der Publikation: 2014

Ausgabe: 1

Nummer: 7

Seiten: 604-611

Art: Artikel

DOI: 10.1021/PH500081K GOOGLE SCHOLAR