Present and future of surface-enhanced Raman scattering
- Langer, J.
- de Aberasturi, D.J.
- Aizpurua, J.
- Alvarez-Puebla, R.A.
- Auguié, B.
- Baumberg, J.J.
- Bazan, G.C.
- Bell, S.E.J.
- Boisen, A.
- Brolo, A.G.
- Choo, J.
- Cialla-May, D.
- Deckert, V.
- Fabris, L.
- Faulds, K.
- Javier García de Abajo, F.
- Goodacre, R.
- Graham, D.
- Haes, A.J.
- Haynes, C.L.
- Huck, C.
- Itoh, T.
- Käll, M.
- Kneipp, J.
- Kotov, N.A.
- Kuang, H.
- Le Ru, E.C.
- Lee, H.K.
- Li, J.-F.
- Ling, X.Y.
- Maier, S.A.
- Mayerhöfer, T.
- Moskovits, M.
- Murakoshi, K.
- Nam, J.-M.
- Nie, S.
- Ozaki, Y.
- Pastoriza-Santos, I.
- Perez-Juste, J.
- Popp, J.
- Pucci, A.
- Reich, S.
- Ren, B.
- Schatz, G.C.
- Shegai, T.
- Schlücker, S.
- Tay, L.-L.
- George Thomas, K.
- Tian, Z.-Q.
- van Duyne, R.P.
- Vo-Dinh, T.
- Wang, Y.
- Willets, K.A.
- Xu, C.
- Xu, H.
- Xu, Y.
- Yamamoto, Y.S.
- Zhao, B.
- Liz-Marzán, L.M.
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ISSN: 1936-086X, 1936-0851
Año de publicación: 2020
Volumen: 14
Número: 1
Páginas: 28-117
Tipo: Revisión