Electron lifetimes in image-potential states at metal-dielectric interfaces

  1. Machado, M.
  2. Chulkov, E.V.
  3. Silkin, V.M.
  4. Höfer, U.
  5. Echenique, P.M.
Revista:
Progress in Surface Science

ISSN: 0079-6816

Año de publicación: 2003

Volumen: 74

Número: 1-8

Páginas: 219-237

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.PROGSURF.2003.08.019 GOOGLE SCHOLAR
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