Measurement based nonlinear electrothermal modeling of GaAs FET with dynamical trapping effects
- Ouarch, Z.
- Collantes, J.M.
- Teyssier, J.P.
- Quere, R.
ISSN: 0149-645X
Año de publicación: 1998
Volumen: 2
Páginas: 599-602
Tipo: Aportación congreso
ISSN: 0149-645X
Año de publicación: 1998
Volumen: 2
Páginas: 599-602
Tipo: Aportación congreso