Combined analysis of systematic and random uncertainties for different noise-figure characterization methodologies

  1. Collado, A.
  2. Collantes, J.M.
  3. De la Fuente, L.
  4. Otegi, N.
  5. Perea, L.
  6. Sayed, M.
Actes de conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

Année de publication: 2003

Volumen: 2

Pages: 1419-1422

Type: Communication dans un congrès

GOOGLE SCHOLAR
La source de données: Scopus