Combined analysis of systematic and random uncertainties for different noise-figure characterization methodologies

  1. Collado, A.
  2. Collantes, J.M.
  3. De la Fuente, L.
  4. Otegi, N.
  5. Perea, L.
  6. Sayed, M.
Konferenzberichte:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 2

Seiten: 1419-1422

Art: Konferenz-Beitrag

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Datenquelle: Scopus