In-Circuit Characterization of Low-Frequency Stability Margins in Power Amplifiers
- Gonzalez, J.M.
- Otegi, N.
- Anakabe, A.
- Mori, L.
- Barcenilla, A.
- Collantes, J.-M.
ISSN: 0018-9480
Ano de publicación: 2019
Volume: 67
Número: 2
Páxinas: 822-833
Tipo: Artigo