In-Circuit Characterization of Low-Frequency Stability Margins in Power Amplifiers

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

ISSN: 0018-9480

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 67

Nummer: 2

Seiten: 822-833

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TMTT.2018.2883568 GOOGLE SCHOLAR
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