Dielectric properties of thin insulating layers measured by electrostatic force microscopy

  1. Riedel, C.
  2. Armero, R.
  3. Tordjeman, Ph.
  4. Ramonda, M.
  5. Lévêque, G.
  6. Schwartz, G.A.
  7. De Oteyza, D.G.
  8. Alegría, A.
  9. Colmenero, J.
Revista:
EPJ Applied Physics

ISSN: 1286-0042 1286-0050

Año de publicación: 2010

Volumen: 50

Número: 1

Tipo: Artículo

DOI: 10.1051/EPJAP/2010010 GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible