Dielectric properties of thin insulating layers measured by electrostatic force microscopy

  1. Riedel, C.
  2. Armero, R.
  3. Tordjeman, Ph.
  4. Ramonda, M.
  5. Lévêque, G.
  6. Schwartz, G.A.
  7. De Oteyza, D.G.
  8. Alegría, A.
  9. Colmenero, J.
Revista:
EPJ Applied Physics

ISSN: 1286-0042,  1286-0050

Any de publicació: 2010

Volum: 50

Número: 1

Tipus: Article

DOI: 10.1051/EPJAP/2010010 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus