Nanoscale dielectric properties of insulating thin films: From single point measurements to quantitative images

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Zeitschrift:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Datum der Publikation: 2010

Ausgabe: 110

Nummer: 6

Seiten: 634-638

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2010.02.024 GOOGLE SCHOLAR
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