AFM based dielectric spectroscopy: Extended frequency range through excitation of cantilever higher eigenmodes

  1. Miccio, L.A.
  2. Kummali, M.M.
  3. Schwartz, G.A.
  4. Alegría, Á.
  5. Colmenero, J.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Ano de publicación: 2014

Volume: 146

Páxinas: 55-61

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2014.06.006 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus