AFM based dielectric spectroscopy: Extended frequency range through excitation of cantilever higher eigenmodes

  1. Miccio, L.A.
  2. Kummali, M.M.
  3. Schwartz, G.A.
  4. Alegría, Á.
  5. Colmenero, J.
Aldizkaria:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Argitalpen urtea: 2014

Alea: 146

Orrialdeak: 55-61

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2014.06.006 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus