AFM based dielectric spectroscopy: Extended frequency range through excitation of cantilever higher eigenmodes

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Zeitschrift:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Datum der Publikation: 2014

Ausgabe: 146

Seiten: 55-61

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2014.06.006 GOOGLE SCHOLAR

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