Dielectric spectroscopy at the nanoscale by atomic force microscopy: A simple model linking materials properties and experimental response

  1. Miccio, L.A.
  2. Kummali, M.M.
  3. Schwartz, G.A.
  4. Alegría, Á.
  5. Colmenero, J.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 1089-7550,  0021-8979

Any de publicació: 2014

Volum: 115

Número: 18

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.4875836 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus