A review of flicker severity assessment by the IEC flickermeter

  1. Ruiz, J.
  2. Gutierrez, J.J.
  3. Lazkano, A.
  4. Ruiz De Gauna, S.
Revue:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Année de publication: 2010

Volumen: 59

Número: 8

Pages: 2037-2047

Type: Article

DOI: 10.1109/TIM.2009.2031846 GOOGLE SCHOLAR

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