A review of flicker severity assessment by the IEC flickermeter

  1. Ruiz, J.
  2. Gutierrez, J.J.
  3. Lazkano, A.
  4. Ruiz De Gauna, S.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Argitalpen urtea: 2010

Alea: 59

Zenbakia: 8

Orrialdeak: 2037-2047

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TIM.2009.2031846 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus