Test workbench for electronic telecommunication systems

  1. Arias, J.
  2. Jiménez, J.
  3. Aranguren, G.
  4. Lázaro, J.
  5. Martín, J.L.
Actas:
IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)

Año de publicación: 2002

Volumen: 3

Páginas: 2509-2514

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/IECON.2002.1185368 GOOGLE SCHOLAR

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Fuente de los datos: Scopus