HIL testing of a compact beam position monitor diagnostic for particle accelerators

  1. Badillo, I.
  2. Jugo, J.
  3. San Vicente, C.
  4. Portilla, J.
  5. Feuchtwanger, J.
  6. Etxebarria, V.
Konferenzberichte:
IET Conference Publications

ISBN: 9781849198585

Datum der Publikation: 2014

Ausgabe: 2014

Nummer: 630 CP

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1049/CP.2014.0546 GOOGLE SCHOLAR