HIL testing of a compact beam position monitor diagnostic for particle accelerators

  1. Badillo, I.
  2. Jugo, J.
  3. San Vicente, C.
  4. Portilla, J.
  5. Feuchtwanger, J.
  6. Etxebarria, V.
Actes:
IET Conference Publications

ISBN: 9781849198585

Any de publicació: 2014

Volum: 2014

Número: 630 CP

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1049/CP.2014.0546 GOOGLE SCHOLAR