Detecting Low-Frequency Critical Resonances in Power Amplifiers Using the Periodicity of Floquet Exponents

  1. Otegi, N.
  2. Collantes, J.-M.
  3. Grao, M.
  4. Feuchtwanger, J.
Konferenzberichte:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 9798350347647

Datum der Publikation: 2023

Ausgabe: 2023-June

Seiten: 1105-1108

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/IMS37964.2023.10188186 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus