All-Optical Self-Referenced Transverse Position Sensing with Subnanometer Precision
- Tischler, N.
- Stark, J.
- Zambrana-Puyalto, X.
- Fernandez-Corbaton, I.
- Vidal, X.
- Molina-Terriza, G.
- Juan, M.L.
ISSN: 2330-4022
Ano de publicación: 2018
Volume: 5
Número: 9
Páxinas: 3628-3633
Tipo: Artigo