Photodoping-Driven Crossover in the Low-Frequency Noise of MoS2 Transistors
- Martinez, I.
- Ribeiro, M.
- Andres, P.
- Hueso, L.E.
- Casanova, F.
- Aliev, F.G.
Zeitschrift:
Physical Review Applied
ISSN: 2331-7019
Datum der Publikation: 2017
Ausgabe: 7
Nummer: 3
Art: Artikel