Temperature-depending Raman line-shift of silicon carbide

  1. Bauer, M.
  2. Gigler, A.M.
  3. Huber, A.J.
  4. Hillenbrand, R.
  5. Stark, R.W.
Zeitschrift:
Journal of Raman Spectroscopy

ISSN: 1097-4555,  0377-0486

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 40

Nummer: 12

Seiten: 1867-1874

Art: Artikel

DOI: 10.1002/JRS.2334 GOOGLE SCHOLAR
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