Investigation of Physical and electrochemical properties of Ni doped CeO2 Thin films: DFT calculation

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Revue:
Current Applied Physics

ISSN: 1567-1739

Année de publication: 2021

Volumen: 31

Pages: 171-181

Type: Article

DOI: 10.1016/J.CAP.2021.08.015 GOOGLE SCHOLAR

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