Investigation of Physical and electrochemical properties of Ni doped CeO2 Thin films: DFT calculation

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Zeitschrift:
Current Applied Physics

ISSN: 1567-1739

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 31

Seiten: 171-181

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.CAP.2021.08.015 GOOGLE SCHOLAR

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