The structure of Si nanocrystals on SiC

  1. Kaiser, U.
  2. Chuvilin, A.
  3. Saitoh, K.
  4. Richter, W.
Revista:
Journal of Electron Microscopy

ISSN: 0022-0744

Any de publicació: 2001

Volum: 50

Número: 4

Pàgines: 311-319

Tipus: Article

DOI: 10.1093/JMICRO/50.4.311 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus