Quantitative Analysis of Electron Beam-Induced Destruction of Graphene Membranes under an Electron Microscope

  1. Eder, F.
  2. Meyer, J.C.
  3. Kurasch, S.
  4. Skakalova, V.
  5. Kotakoski, J.
  6. Krasheninnikov, A.
  7. Kaiser, U.
  8. Chuvilin, A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Ano de publicación: 2012

Volume: 18

Número: S2

Páxinas: 1500-1501

Tipo: Artigo

DOI: 10.1017/S143192761200935X GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus