Quantitative Analysis of Electron Beam-Induced Destruction of Graphene Membranes under an Electron Microscope

  1. Eder, F.
  2. Meyer, J.C.
  3. Kurasch, S.
  4. Skakalova, V.
  5. Kotakoski, J.
  6. Krasheninnikov, A.
  7. Kaiser, U.
  8. Chuvilin, A.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115 1431-9276

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 18

Nummer: S2

Seiten: 1500-1501

Art: Artikel

DOI: 10.1017/S143192761200935X GOOGLE SCHOLAR