Quantitative Analysis of Electron Beam-Induced Destruction of Graphene Membranes under an Electron Microscope
- Eder, F.
- Meyer, J.C.
- Kurasch, S.
- Skakalova, V.
- Kotakoski, J.
- Krasheninnikov, A.
- Kaiser, U.
- Chuvilin, A.
ISSN: 1435-8115, 1431-9276
Datum der Publikation: 2012
Ausgabe: 18
Nummer: S2
Seiten: 1500-1501
Art: Artikel