Quantitative Analysis of Electron Beam-Induced Destruction of Graphene Membranes under an Electron Microscope

  1. Eder, F.
  2. Meyer, J.C.
  3. Kurasch, S.
  4. Skakalova, V.
  5. Kotakoski, J.
  6. Krasheninnikov, A.
  7. Kaiser, U.
  8. Chuvilin, A.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Any de publicació: 2012

Volum: 18

Número: S2

Pàgines: 1500-1501

Tipus: Article

DOI: 10.1017/S143192761200935X GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus