Probing the exciton density of states in semiconductor nanocrystals using integrated photoluminescence spectroscopy
- Filonovich, S.A.
- Rakovich, Y.P.
- Vasilevskiy, M.I.
- Artemyev, M.V.
- Talapin, D.V.
- Rogach, A.L.
- Rolo, A.G.
- Gomes, M.J.M.
ISSN: 0026-9247
Ano de publicación: 2002
Volume: 133
Número: 6
Páxinas: 909-918
Tipo: Artigo