Bi 2Te 3-Sb 2Te 3 on polymeric substrate for X-ray detectors based on the seebeck effect

  1. Rocha, J.G.
  2. Goncalves, L.M.
  3. Lanceros-Mendez, S.
Revista:
Microsystem Technologies

ISSN: 0946-7076

Ano de publicación: 2012

Volume: 18

Número: 1

Páxinas: 1-8

Tipo: Artigo

DOI: 10.1007/S00542-011-1380-1 GOOGLE SCHOLAR