A method to extract lumped thermal networks of capacitors for reliability oriented design

  1. Delmonte, N.
  2. Cabezuelo, D.
  3. Kortabarria, I.
  4. Santoro, D.
  5. Toscani, A.
  6. Cova, P.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Ano de publicación: 2020

Volume: 114

Tipo: Artigo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2020.113737 GOOGLE SCHOLAR lock_openeBiltegia editor
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