High resolution x-ray elemental mapping of nanoparticles in the STEM

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Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 10

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 468-469

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927604886665 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus