Dual-Scattering Near-Field Microscope for Correlative Nanoimaging of SERS and Electromagnetic Hotspots

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Revista:
Nano Letters

ISSN: 1530-6992,  1530-6984

Ano de publicación: 2017

Volume: 17

Número: 4

Páxinas: 2667-2673

Tipo: Artigo

DOI: 10.1021/ACS.NANOLETT.7B00503 GOOGLE SCHOLAR
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