Dual-Scattering Near-Field Microscope for Correlative Nanoimaging of SERS and Electromagnetic Hotspots
- Kusch, P.
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- Mueller, N.S.
- Morquillas Azpiazu, N.
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- Hübner, U.
- Pascual, J.I.
- Reich, S.
- Hillenbrand, R.
ISSN: 1530-6992, 1530-6984
Datum der Publikation: 2017
Ausgabe: 17
Nummer: 4
Seiten: 2667-2673
Art: Artikel