Estimating the SEU failure rate of designs implemented in FPGAs in presence of MCUs

  1. Villalta, I.
  2. Bidarte, U.
  3. Gomez-Cornejo, J.
  4. Lázaro, J.
  5. Astarloa, A.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2017

Volum: 78

Pàgines: 85-92

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.08.003 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus