Signatures of temperature driven antiferromagnetic transition in the electronic structure of topological insulator MnBi2Te4

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Revista:
APL Materials

ISSN: 2166-532X

Ano de publicación: 2020

Volume: 8

Número: 2

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.5142846 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
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