A test stand for ion sources of ultimate reliability

  1. Enparantza, R.
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Konferenzberichte:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X 1551-7616

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 1097

Seiten: 461-469

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/1.3112545 GOOGLE SCHOLAR

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