Electron lifetimes in image-potential states at metal-dielectric interfaces

  1. Machado, M.
  2. Chulkov, E.V.
  3. Silkin, V.M.
  4. Höfer, U.
  5. Echenique, P.M.
Zeitschrift:
Progress in Surface Science

ISSN: 0079-6816

Datum der Publikation: 2003

Ausgabe: 74

Nummer: 1-8

Seiten: 219-237

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1016/J.PROGSURF.2003.08.019 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus