Measurement based nonlinear electrothermal modeling of GaAs FET with dynamical trapping effects

  1. Ouarch, Z.
  2. Collantes, J.M.
  3. Teyssier, J.P.
  4. Quere, R.
Actes de conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

Année de publication: 1998

Volumen: 2

Pages: 599-602

Type: Communication dans un congrès

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